11. 射頻載波調變之頻率偏移測試
11.1  測試目的
      為驗證 EUT  射頻載波調變之頻率偏移在合格標準內。
11.2  合格標準
      EUT 射頻載波調變之頻率偏移須符合下列合格標準。
      Part1：≧±259kHz 且 ≦±403kHz （峰值）
      Part2：≧±202kHz 且 ≦±403kHz （峰值）
      Part3：≧±202kHz 且 ≦±403kHz （峰值）
      Part4：≦±17kHz（平均值）
11.3  測試方法
      a.EUT 設定為依測試系統（LT）所指定頻道 c= 5 與通信 Slot 號
        碼，關閉交遞功能。
      b.選擇系統模擬設備（TBR06） 中射頻載波調變之頻率偏移測試模
        式。
      c.Part1 測試
     （a）LT  設定資料回傳模式，發射 0000111100001111 資訊。
     （b）在鎖定通信後取樣> 1 秒。
     （c）量測頻寬需> 3MHz，量測計算正向與負向之 f  與 fc 之偏移
          值之峰值。
     （d）依下列 EUT  類型之測試模式，重覆（a）-（c） 步驟：
          ┌────────────────┬────┐
          │EUT 類型                        │測試次數│
          ├────────────────┼────┤
          │僅有 A  資料場 (A-Field)  發射  │100     │
          ├────────────────┼────┤
          │半資料槽 (Slot) 發射            │40      │
          ├────────────────┼────┤
          │全資料槽 發射                   │10      │
          ├────────────────┼────┤
          │雙資料槽 發射                   │5       │
          └────────────────┴────┘
      d.Part 2  測試：
     （a）發射資訊依下表改變：
┌─────────────────┬────────────┐
│EUT 類型                          │發射資訊                │
├─────────────────┼────────────┤
│僅有 A  資料場 (A-Field)  發射    │A-field, 32 data, a16-31│
│                                  │=1, a32-47=0            │
├─────────────────┼────────────┤
│半資料槽 (Slot) 發射              │B-field, 80 data,       │
│                                  │b0-b7:10101010,b8-b39=1,│
│                                  │b40-b71=0,b72-b79=101010│
│                                  │10                      │
├─────────────────┼────────────┤
│全資料槽發射                      │ B-field, 320 data,     │
│                                  │ b0-b127:1010...,b128-b1│
│                                  │ 91=1,                  │
│                                  │ b192-b255=0,b256-b319=1│
│                                  │ 010...                 │
├─────────────────┼────────────┤
│雙資料槽發射                      │ B-field, 800 data, b0-b│
│                                  │ 143=1010...,           │
│                                  │ b144-b271=1, b272-b335=│
│                                  │ 0,                     │
│                                  │ b336-b399=1,b400-b463=0│
│                                  │ ,                      │
│                                  │ b464+b527=1,b528-b591=0│
│                                  │ ,                      │
│                                  │ b592-b655=1,b656-b799=1│
│                                  │ 010...,                │
└─────────────────┴────────────┘
     （b）量測頻寬需> 3MHz，量測計算正向與負向之 f  與 fc 之偏移
          值之峰值。
     （c）依下列 EUT  類型之測試模式，重覆（a）-（b） 步驟：
        ┌──────────────┬────┐
        │EUT 類型                    │測試次數│
        ├──────────────┼────┤
        │僅有 A 資料場 (A-Field) 發射│100     │
        ├──────────────┼────┤
        │半資料槽 (Slot) 發射        │40      │
        ├──────────────┼────┤
        │全資料槽  發射              │10      │
        ├──────────────┼────┤
        │雙資料槽  發射              │5       │
        └──────────────┴────┘
      e.Part3 測試
     （a）LT  設定資料回傳模式，發射 0101010101010101 資訊。
     （b）量測頻寬需> 3MHz, 量測計算前 16bits 同步信號與回傳信號
          之 f  與 fc 之偏移值之峰值。
     （c）依下列 EUT  類型之測試模式，重覆（a）-（b） 步驟：
        ┌──────────────┬────┐
        │EUT  類型                   │測試次數│
        ├──────────────┼────┤
        │僅有 A 資料場 (A-Field) 發射│100     │
        ├──────────────┼────┤
        │半資料槽 (Slot) 發射        │40      │
        ├──────────────┼────┤
        │全資料槽  發射              │10      │
        ├──────────────┼────┤
        │雙資料槽  發射              │5       │
        └──────────────┴────┘
      f.Part4 測試
     （a）LT  設定資料回傳模式，發射 0101010101010101 資訊。
     （b）在鎖定通信後取樣> 1 秒，量測頻寬需> 3MHz。
     （c）量測計算前 16bits 同步信號之前 14 bits  之平均頻率 fs
          。
     （d）量測計算前 16bits 回傳信號之前 14 bits  之平均頻率 fl
          。
     （e）重覆 200  次測試步驟（a）-（e） ，計算 fl-fs  之平均頻
          率偏移。
      g.測試結果將顯示在螢幕上，並將測試結果列印出來。
      h.設定頻道 c= 2,9,  重覆 b-g  步驟。
11.4  測試規定
      測試條件如附錄 A，並依附錄 B  接線方式量測，且本測試應置於
      測試場所或測試治具上，若 EUT  有天線接頭，則應由該處接至 L
      T。