11. 射頻載波調變之頻率偏移測試
11.1 測試目的
為驗證 EUT 射頻載波調變之頻率偏移在合格標準內。
11.2 合格標準
EUT 射頻載波調變之頻率偏移須符合下列合格標準。
Part1：≧±259kHz 且 ≦±403kHz （峰值）
Part2：≧±202kHz 且 ≦±403kHz （峰值）
Part3：≧±202kHz 且 ≦±403kHz （峰值）
Part4：≦±17kHz（平均值）
11.3 測試方法
a.EUT 設定為依測試系統（LT）所指定頻道 c= 5 與通信 Slot 號
碼，關閉交遞功能。
b.選擇系統模擬設備（TBR06） 中射頻載波調變之頻率偏移測試模
式。
c.Part1 測試
（a）LT 設定資料回傳模式，發射 0000111100001111 資訊。
（b）在鎖定通信後取樣> 1 秒。
（c）量測頻寬需> 3MHz，量測計算正向與負向之 f 與 fc 之偏移
值之峰值。
（d）依下列 EUT 類型之測試模式，重覆（a）-（c） 步驟：
┌────────────────┬────┐
│EUT 類型 │測試次數│
├────────────────┼────┤
│僅有 A 資料場 (A-Field) 發射 │100 │
├────────────────┼────┤
│半資料槽 (Slot) 發射 │40 │
├────────────────┼────┤
│全資料槽 發射 │10 │
├────────────────┼────┤
│雙資料槽 發射 │5 │
└────────────────┴────┘
d.Part 2 測試：
（a）發射資訊依下表改變：
┌─────────────────┬────────────┐
│EUT 類型 │發射資訊 │
├─────────────────┼────────────┤
│僅有 A 資料場 (A-Field) 發射 │A-field, 32 data, a16-31│
│ │=1, a32-47=0 │
├─────────────────┼────────────┤
│半資料槽 (Slot) 發射 │B-field, 80 data, │
│ │b0-b7:10101010,b8-b39=1,│
│ │b40-b71=0,b72-b79=101010│
│ │10 │
├─────────────────┼────────────┤
│全資料槽發射 │ B-field, 320 data, │
│ │ b0-b127:1010...,b128-b1│
│ │ 91=1, │
│ │ b192-b255=0,b256-b319=1│
│ │ 010... │
├─────────────────┼────────────┤
│雙資料槽發射 │ B-field, 800 data, b0-b│
│ │ 143=1010..., │
│ │ b144-b271=1, b272-b335=│
│ │ 0, │
│ │ b336-b399=1,b400-b463=0│
│ │ , │
│ │ b464+b527=1,b528-b591=0│
│ │ , │
│ │ b592-b655=1,b656-b799=1│
│ │ 010..., │
└─────────────────┴────────────┘
（b）量測頻寬需> 3MHz，量測計算正向與負向之 f 與 fc 之偏移
值之峰值。
（c）依下列 EUT 類型之測試模式，重覆（a）-（b） 步驟：
┌──────────────┬────┐
│EUT 類型 │測試次數│
├──────────────┼────┤
│僅有 A 資料場 (A-Field) 發射│100 │
├──────────────┼────┤
│半資料槽 (Slot) 發射 │40 │
├──────────────┼────┤
│全資料槽 發射 │10 │
├──────────────┼────┤
│雙資料槽 發射 │5 │
└──────────────┴────┘
e.Part3 測試
（a）LT 設定資料回傳模式，發射 0101010101010101 資訊。
（b）量測頻寬需> 3MHz, 量測計算前 16bits 同步信號與回傳信號
之 f 與 fc 之偏移值之峰值。
（c）依下列 EUT 類型之測試模式，重覆（a）-（b） 步驟：
┌──────────────┬────┐
│EUT 類型 │測試次數│
├──────────────┼────┤
│僅有 A 資料場 (A-Field) 發射│100 │
├──────────────┼────┤
│半資料槽 (Slot) 發射 │40 │
├──────────────┼────┤
│全資料槽 發射 │10 │
├──────────────┼────┤
│雙資料槽 發射 │5 │
└──────────────┴────┘
f.Part4 測試
（a）LT 設定資料回傳模式，發射 0101010101010101 資訊。
（b）在鎖定通信後取樣> 1 秒，量測頻寬需> 3MHz。
（c）量測計算前 16bits 同步信號之前 14 bits 之平均頻率 fs
。
（d）量測計算前 16bits 回傳信號之前 14 bits 之平均頻率 fl
。
（e）重覆 200 次測試步驟（a）-（e） ，計算 fl-fs 之平均頻
率偏移。
g.測試結果將顯示在螢幕上，並將測試結果列印出來。
h.設定頻道 c= 2,9, 重覆 b-g 步驟。
11.4 測試規定
測試條件如附錄 A，並依附錄 B 接線方式量測，且本測試應置於
測試場所或測試治具上，若 EUT 有天線接頭，則應由該處接至 L
T。